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数显介电常数介质损耗测试仪

产品简介

数显介电常数介质损耗测试仪-介质损耗和介电常数是各类电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷,,,, , ,,还有复合伙料等的一项沉要的物理性质,,,, , ,,通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε),,,, , ,,可进一步相识影响介质损耗和介电常数的各类成分,,,, , ,,为提高资料的机能提供凭据;;;; ;;;;仪器的根基道理是选取高频谐振法,,,, , ,,并提供了,,,, , ,,通用、多用处、大批程的阻抗测试。。。。。。

产品型号:GCSTD-A/B
更新功夫:2026-07-23
厂商性质:出产厂家
接见量:2716
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数显介电常数介质损耗测试仪

数显介电常数介质损耗测试仪

GCSTD-A/B

一、满足尺度

GB/T1409-2006丈量电断气缘资料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数的推荐步骤

GB/T 5654-2007液体绝缘资料 相对电容率、介质损耗因数和直流电阻率的丈量

GB/T 21216-2007绝缘液体 丈量电导和电容确定介质损耗因数的试验步骤

GB/T 1693-2007硫化橡胶 介电常数和介质损耗角正切值的测定步骤

GB/T 5594.4-1985__电子元器件结构陶瓷资料机能测试步骤介质损耗角正切值的测试步骤

GBT 1409-2006丈量电断气缘资料在工频、音频、高频(蕴含米波波长在内)下电容率和介质

损耗因数的推荐步骤

ASTM D150/IEC 60250固体电绝缘资料的(长期电介质)的互换损耗个性和介电常数的测试步骤

二、重要用处

数显介电常数介质损耗测试仪-重要用于丈量非金属资料的介电常数(ε)和介质损耗(tanδ)

三、产品概述

介质损耗和介电常数是各类电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷,,,, , ,,还有复合伙料等的一项沉要的物理性质,,,, , ,,通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε),,,, , ,,可进一步相识影响介质损耗和介电常数的各类成分,,,, , ,,为提高资料的机能提供凭据;;;; ;;;;仪器的根基道理是选取高频谐振法,,,, , ,,并提供了,,,, , ,,通用、多用处、大批程的阻抗测试。。。。。。它以单片推算机作为仪器的节造,,,, , ,,丈量主题选取了频率数字锁定,,,, , ,,尺度频率测试点自动设定,,,, , ,,谐振点自动搜索,,,, , ,,Q值量程自动转换,,,, , ,,数值显示等新技术,,,, , ,,改进了调谐回路,,,, , ,,使得调谐测试回路的残存电感,,,, , ,,并保留了原Q表中自动稳幅等技术,,,, , ,,使得新仪器在使用时更为方便,,,, , ,,丈量值更为精确。。。。。。仪器能在较高的测试频率前提下,,,, , ,,丈量高频电感或谐振回路的Q值,,,, , ,,电感器的电感量和散布电容量,,,, , ,,电容器的电容量和损耗角正切值,,,, , ,,电工资料的高频介质损耗,,,, , ,,高频回路有效并联及串联电阻,,,, , ,,传输线的个性阻抗等。。。。。。

四、测试道理与步骤

测试道理

仪器向被测资料施加一个高频电场,,,, , ,,同时检测资料内部的电场散布和电流变动。。。。。。

凭据丈量到的数据,,,, , ,,仪器利用一系列复杂的算法推算出资料的介电常数和介质损耗。。。。。。

测试步骤

平行板法:将两个电极平行搁置并夹持被测资料形成一个电容器,,,, , ,,而后向电容器施加一个高频电场并丈量其电容和耗散因子。。。。。。

接触电极法:将电极搁置在被测资料表表并施加一个高频电场,,,, , ,,而后丈量电极与资料之间的电容和耗散因子。。。。。。

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