只管本尺度中描述的几衷祓痕与蚀损试验步骤在文件中可能时时被称为“老化试验”，，，，，但指出它们 在肯定意思上不是加快老化试验很沉要。。。。。。。由于这些试验既不能模拟确切的降低现实使用寿命的前提，，，，， 也不能通过短功夫的加快给出一个寿命的等伉试验…而所使用的持续的、循环的或组合的应力，，，，，是要试 图致力发现可能危及绝缘子运行机能的潜在幽微点。。。。。。。

这些有关的试验（9. 3. 3,附录A,附录B）*被描为筛选试验，，，，，能够用来剔除不合用的资料或者 设计。。。。。。。

聚合物绝缘子的老化过程通常不会同时造成容易丈量的引起老化的逐步变动的特点。。。。。。。绝缘子从 “机能优良”到“使用寿命实现”的玺化，，，，，时时是迅速而没有事先预兆的，，，，，并有可能被类似前面提及的盐雾 试验中所得到蚀损深度，，，，，或强紫表线所造成的表表开裂观察到。。。。。。。这种变动的功夫和速度依赖于好多参 数，，，，，蕴含绝缘了的资料、设计以及绝缘于的运行环境。。。。。。。因而，，，，，对于用这样的老化试验预测绝缘于的真实 寿命，，，，，仅当得到在一样或类似的环境下一样或类似的绝缘子的关于危险或降解的数据冇效时，，，，，才是有订 能的。。。。。。。

因而,这些试验的利用是为了给出设计和资料的个性与比力刻薄而拒严格的环境中出现的应 力之间关系的-般信息。。。。。。。

沉要的是，，，，，要把稳到通过尺度的“试验实现”时的粉碎水平在大部门运行环境下是不能接受的。。。。。。。例 如，，，，，在有关试验（9. 3.-3,附录A,附录B）中"［到3 mm的蚀损深度在试验中是能够接受的，，，，，但绝缘子 运行中这不能被接受.，，，，，在绝缘*的设计寿射中也不仅愿产生。。。。。。。

进一步的信息，，，，，见C1GRE技术手册142册：“聚合物绝缘子的i'|然和人为老化以及污秽试验” （）7,1999。。。。。。。